Zeta-APS システム
- ナノ粒子
- セラミック
- CMP スラリー
- インク
- 蛍光体
- 二酸化チタン
- カーボンブラック ほか
仕様書
システムの特長
Zeta-APS は、特許技術を取得したハードウェアデザインによりメンテナンスを容易にし、研究開発だけでなく、品質管理およびオンラインモニタリング用の機種も用意しています。
サンプル条件
| サンプル量 | 220 mL (combo セル)、120 mL (粒度分布用) |
| 濃度範囲 | 0.1 ~ 50 Vol% |
| pH | 0 ~ 14 |
| 電気伝導度 | 5 Siemens/meter 以下 |
| 粘度 | 流動性があること (< 30,000 mPa・s) |
| 温度 | 15 ~ 40 ℃ |
| ゼータ電位 | 制限無し |
粒度分布測定
| 測定原理 | 超音波減衰法 |
| 周波数 | 1 ~ 100 MHz |
| 粒子径 | 5 nm ~ 100 µm |
| 超音波減衰率 | 0.1 ~ 1000 dB/cm |
| 音速度 | 800 ~ 2000 m/sec |
| 音響インピーダンス | 制限無し |
| 比重差 | 制限無し |
ゼータ電位測定
| 測定原理 | 電気音響法 ESA (Electrokinetic Sonic Amplitude) |
| 周波数範囲 | 0.5 ~ 5 MHz |
| 供給電源電圧 | 0 ~ 1000 V、通常設定 600 V (水系) 600 ~ 2000 V、通常設定 1200 V (非水系) |
| パルス持続時間 | 30 µs |
| 粒子径 | 1 nm ~ 70 µm |
| 比重差 | 2 % 以上差があること |
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